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雷尼紹TP200測頭
TP200系統(tǒng)組件包括：
TP200或TP200B測頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動公差）
TP200測針模塊 — 選擇固定超程測力：SF（標準測力）或LF（低測力）
PI 200測頭接口
SCR200測針交換架
還有一種EO模塊（長超程），超程測力與SF相同，但工作范圍更大，并在測頭Z軸方向提供保護。
特性與優(yōu)點
應(yīng)變片技術(shù)具有無可比擬的重復(fù)性和精確的三維輪廓測量
零復(fù)位誤差
無各向同性影響
六向測量能力
測針測量距離達100 mm（GF測針）
快速測頭模塊交換，無需重新標定測尖
壽命 >1 000萬次觸發(fā)
TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和精確的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。
傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性，并且消除了機械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。
TP200B采用的技術(shù)與TP200相同，但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標測量機傳導(dǎo)振動或在移動速度很高的情況下使用長測針所引發(fā)的誤觸發(fā)問題。
請注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄/星形測針。
TP200規(guī)格
| 摘要 | TP200 | TP200B |
|---|---|---|
主要應(yīng)用 | 需要高精度的數(shù)控坐標測量機。 | 與TP200一樣，但當出現(xiàn)誤觸發(fā)事件時。 |
傳感器方向 | 六軸：±X、±Y、±Z | 六軸：±X、±Y、±Z |
單向重復(fù)性 (2s μm) | 觸發(fā)水平1：0.40 μm 觸發(fā)水平2：0.50 μm | 觸發(fā)水平1：0.40 μm 觸發(fā)水平2：0.50 μm |
XY（2D）輪廓形式測量偏差 | 觸發(fā)水平1：±0.80 μm 觸發(fā)水平2：±0.90 μm | 觸發(fā)水平1：±1 μm 觸發(fā)水平2：±1.2 μm |
XYZ (3D) 輪廓測量偏差 | 觸發(fā)水平1：±1 μm 觸發(fā)水平2：±1.40 μm | 觸發(fā)水平1：±2.50 μm 觸發(fā)水平2：±4 μm |
| 測針交換的重復(fù)性 | SCR200：±0.50 μm（最大） 手動：±1 μm（最大） | SCR200：±0.50 μm（最大） 手動：±1 μm（最大） |
| 測力（測尖） | XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N | XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N |
| 超程測力（位移為0.50 mm時） | XY平面（SF/EO模塊）：0.2 N至0.4 N | XY平面（SF/EO模塊）：0.2 N至0.4 N |
| 重量（測頭傳感器和模塊） | 22 g | 22 g |
| 最長加長桿（如配在PH10系列測座上） | 300 mm | 300 mm |
| 推薦的最大測針長度（M2測針系列） | SF/EO模塊：50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF | SF/EO模塊：50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF |
| 安裝方式 | M8螺紋 | M8螺紋 |
| 適合的接口 | PI200、UCC | PI200、UCC |
測針模塊交換架 | 自動：SCR200 | 自動：SCR200 |
| 測針系列 | M2 | M2 |
TP200測針模塊
測針模塊通過高重復(fù)性機械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上，具有快速測針交換功能和測頭超程保護功能。
有三種測針模塊可供選擇，具有兩種不同的超程測力。
| 模塊 | SF（標準測力） | LF（低測力） | EO（長超程） |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用 | 一般使用。 | 小直徑測球或必須使用最小測力的場合。 | 額外超程使坐標測量機在較高的碰觸速度下安全停止并回退。 |
| 留言 | 測針最長可達100 mm，測球直徑 > 1 mm。 | 測球直徑小于1 mm。 | 與SF的超程測力相同。 測頭Z軸的額外超程為8 mm。 |
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